Spectrométrie OES ( émission optique ) XRF (Fluorecence X )

IDENTIFICATION D’ALLIAGES ET ANALYSE CHIMIQUE D’ÉLÉMENTS CHIMIQUES SUR SITE A L’AIDE D’APPAREILS PORTABLES

Ces opérations peuvent être effectuées à l’aide de deux techniques différentes et complémentaires: X.R.F. Basée sur le procédé de fluorescence X (XRF) portable, cette technique rapide est bien adaptée à l’identification et au dosage semi-quantitatif des éléments constituants un alliage normalisé (base fer ; base nickel ; base aluminium ; base cobalt…). Elle est principalement utilisée lors des opérations de P.M.I « Positive Material Identification ». Cette technique ne permet pas le dosage qualitatif des éléments traces, et elle ne peut se substituer à une analyse en laboratoire par des méthodes référencées. La précision et la justesse de l’identification dépendent du temps de mesure, de la dimension ainsi que de la géométrie de la pièce à contrôler. Exemples de limitation : Cette technique permet de quantifier seulement les éléments dont le numéro atomique est compris entre le N° 12 (magnésium) et N° 92 (uranium). Il n’est donc pas possible avec cette technique d’identifier et de doser notamment : le carbone, Bore etc...  De ce fait, la méthode ne permet pas l’identification d’un acier dépourvu d’éléments d’addition ( la S.E.O comble ces limites). Principaux éléments d’addition détectés et mesurés : Mg, Al, Si, P, S, Cl, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Y, Zr, Nb, Mo, Sn, Sb, Hf, Ta, W, Ir, Pt, Au, Pb, Bi. La spectrométrie démission optique mobile (S.E.O) C’est un procédé d’analyse chimique in situ, basé sur la séparation et la quantification précise de la lumière spectrale issue de l’excitation crée par un arc électrique entre l’échantillon à analyser et le spectromètre optique. Le procédé permet de doser les éléments C, Mn, Si, Cr, Ni, Mo, Cu, Co, Ti, V, Al, Nb, W. Cette méthode est dite comparative et nécessite un étalonnage journalier réalisé à l’aide de matériaux de référence certifiés « M.R.C ». Exemples de limitation : Les valeurs exprimées en pourcentage peuvent être altérées par la présence dans l’alliage analysé d’un élément chimique en quantité notable, qui ne ferait pas partie de la gamme spectrale des éléments pouvant être mesurés et mentionnés ci-dessus. Exemples de limitations communes à la X.R.F et S.E.O: Ces deux techniques, permettent d’effectuer uniquement des analyses de surface. Elles sont donc par conséquent sensibles aux pollutions de surface